lewy róg Logo Instytutu Fizyki UMCS niemożliwe możliwym! Logo Instytutu Fizyki UMCS prawy róg

Strona główna » Instytut » Pracownicy » Janusz Filiks

mgr Janusz Filiks

Zakład

Zakład Fizyki Jonów i Implantacji

Stanowisko:

specjalista

Kontakt:

pokój: 6
telefon: (081) 537-61-54
e-mail: janusz.filiks@umcs.pl

Publikacje: Pokaż abstrakty

  1. Z. Wroński, J. Filiks, Fe and Ti cathodes sputtering by oxygen plasma in DC glow discharges, Vacuum, 83(), 2009, 77-80

  2. Krzyżanowska, H. Żuk, J. Filiks, J. Kulik, M. Rzodkiewicz, W., Optical constants of low ion fluence implanted GaAs determined by differential reflectance and spectroscopic ellipsometry,Kazimierz Dolny, Poland, Abstracts of VII–th International Conference on Ion Implantation and Other Applications of Ions and Electrons, ION 2008, (), 2008, 93

  3. Kulik, M. Kobzev, A.P. Jaworska, D. Żuk, J. Filiks, J., Investigation of indium diffusion process in In+ ion implanted GaAs, Vacuum, 81(10), 2007, 1124-1128

  4. Youssef, A. A. Budzynski, P. Filiks, J. Surowiec, Z., Improvement of tribological properties of aluminum by nitrogen implantation, Vacuum, 78(2-4), 2005, 599-603

  5. Budzynski, P. Filiks, J. Zukowski, P. Kiszczak, K. Walczak, M., Effect of mixed N and Ar implantation on tribological properties of tool steel, Vacuum, 78(2-4), 2005, 685-692

  6. Youssef, A. A. Budzynski, P. Filiks, J. Kobzev, A. P. Sielanko, J., Improvement of wear and hardness of steel by nitrogen implantation, Vacuum, 77(1), 2004, 37-45

  7. Sielanko, J. Filiks, J. Herec, J., The sputtering of light target material during implantation of heavy ions, Vacuum, 70(2-3), 2003, 381-384

  8. Youssef, A. A. Budzynski, P. Filiks, J. Kamienska, B. Maczka, D., Tribological properties of Ti-implanted duralumin and stainless steel, Vacuum, 68(2), 2002, 131-137

  9. Herec, J. Sielanko, J. Filiks, J. Sowa, M., Low energy Cs+ and Cl- ion implantation into Si- SIMS investigations, Vacuum, 63(4), 2001, 743-748

  10. Herec, J. Filiks, J. Sielanko, J., SIMS study of low energy implantation, Nukleonika, 44(2), 1999, 103-110

  11. Herec, J. Filiks, J. Sowa, M. Sielanko, J. Maczka, D., Negative ion source for SIMS application, Nukleonika, 44(2), 1999, 119-128


[ powrót do pełnej listy pracowników ]